本IC是采用CMOS技术开发的可对应低电压工作、可进行高速检测的高精度霍尔效应开关IC。可检测出磁束密度的强弱，使输出电压发生变化。通过与磁石的组合，可对各种设备的开 / 关进行检测。
由于采用小型的SOT-23-3或超小型的SNT-4A封装，因此可高密度安装。
本IC因为是低电压工作、消耗电流低，所以最适用于电池驱动的便携设备。同时，因具备高精度磁特性，故与磁石组合的工作偏差可变少。
特点
- 极性检测*1
- 检测两极、检测S极、检测N极
- 输出逻辑*1
- 动态 "L"、动态 "H"
- 输出方式*1
- N沟道开路漏极输出、CMOS输出
- 磁气灵敏度*1
- Bop = 3.0 mT (典型值)
- Bop = 4.5 mT (典型值)
- Bop = 7.0 mT (典型值)
- 驱动周期 (消耗电流)
- 检测两极产品
tcycle = 0.10 ms (Ido=640µA) (典型值) - 检测S极、N极产品
tcycle = 0.05 ms (Ido=640µA) (典型值) - 电源电压范围
- Vdd = 1.6 V to 3.5 V
- 工作温度范围
- Ta = -40°C to +85°C
- 无铅 (Sn 100% ),无卤素
*1. 可以选项。
用途
- 手机、智能手机
- 笔记本电脑、平板电脑
- 数码摄像机
- 玩具、游戏机
- 家用电器产品
标准电路
