IC 是用于车载的、可在高温环境下工作的、高速、宽工作电压范围的 SPI 串行 EEPROM。容量为 8 K，16 K，32 K 位，构成是 1024 字 × 8 位，2048 × 8 位，4096 字 × 8 位。可进行页写入、顺序读出。
注意 考虑使用在汽车控制系统和医疗设备用途上的客户，请务必与代理商商谈。
特点
- 工作电压范围
- 读出时 : 2.5 V ~ 5.5 V
- 写入时 : 2.5 V ~ 5.5 V
- 工作频率
- 6.5 MHz (最大值)
- 写入时间
- S-25A080A/160A/320A : 4.0 ms (最大值)
- S-25A080B/160B/320B : 5.0 ms (最大值)
- 支持 SPI 模式 (0, 0) & (1, 1)
- 页写入功能
- 32 节 / 页
- 顺序读出功能
- 写入保护功能
- 软件、硬件
- 保护领域
- 25%, 50%, 100%
- 可通过状态寄存器监视存储器的写入状态
- 通过监视时钟脉冲防止误工作的功能
- 电源电压低时的禁止写入功能
- CMOS 施密特输入 (CS, SCK, SI, WP, HOLD)
- 重写次数*1
- S-25A080A/160A/320A : 106 次 / 字*2 (Ta = +25°C), 5 × 105 次 / 字*2 (Ta = +125°C)
- S-25A080B/160B/320B : 106 次 / 字*2 (Ta = +25°C), 3 × 105 次 / 字*2 (Ta = +125°C)
- 数据保存期
- 100 年 (Ta = +25°C)
- 50 年 (Ta = +125°C)
- 存储器容量
- S-25A080A, S-25A080B : 8 K 位
- S-25A160A, S-25A160B : 16 K 位
- S-25A320A, S-25A320B : 32 K 位
- 首次出厂时数据
- FFh, SRWD = 0, BP1 = 0, BP0 = 0
- 老化测试规格
- 晶元级老化测试
- 工作温度范围
- Ta = -40°C ~ +125°C
- 无铅 (Sn 100%)、无卤素*3
- 应对 AEC-Q100 标准*4
*1. 详情请参阅 "■ 重写次数"。
*2. 每个地址 (字 : 8 位)
*3. 详情请参阅 "■ 产品型号的构成"。
*4. 详情请与本公司营业部门联系。